X荧光光谱仪的使用优势和劣势分析

   X荧光光谱仪（XRF），由激发源（X射线管）和探测系统构成。XRF 的工作原理是：X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。X荧光光谱仪以其绝对优势，目前占据了市场份额的主要成分。接下来，小编就给大家分析下这款光谱仪界的“新宠”有哪些优缺点。

优势分析：

1.分析速度快。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。

2.X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定 。

3.非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。

4.X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。

5.分析精密度高。

6.制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。

劣势分析：

a)难于作绝对分析，故定量分析需要标样。

b)对轻元素检测的灵敏度要低一些。

c)容易受相互元素干扰和叠加峰影响。